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2019-09-19 至 2019-09-19

上海

丁敬群

021-51085884-807

[email protected]

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资料表征范畴的领导者Micromeritics麦克仪器公司将举行《颗粒、粉体、膜(P3)的剖析与表征技能研讨会》,共享世界抢先的资料表征技能及实践使用,为用户的资料剖析与表征供给完整性解决方案。诚挚邀请您到会本次研讨会!

时刻:2019年9月19日全天

地址:上海浦东(待定)

费用:免费

内容:

颗粒、粉体、膜的特性与总述;

颗粒粒度剖析:电阻法,X沉降法与亚筛分法

颗粒形状剖析:动态图画法

颗粒粉体剖析的样品制备:取样,缩样与涣散

孔径剖析:气液与液液孔径剖析办法

粉体流动性剖析

咨询电话:021-51085884-807


研讨会首要主讲人:

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