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2019-09-19 至 2019-09-19

上海

丁敬群

021-51085884-807

[email protected]

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材料表征领域的领导者Micromeritics麦克仪器公司将举办《颗粒、粉体、膜(P3)的分析与表征技术研讨会》,分享国际领先的材料表征技术及实际应用,为用户的材料分析与表征提供完整性解决方案。诚挚邀请您出席本次研讨会!

时间:2019年9月19日全天

地点:上海浦东(待定)

费用:免费

内容:

颗粒、粉体、膜的特性与综述;

颗粒粒度分析:电阻法,X沉降法与亚筛分法

颗粒形态分析:动态图像法

颗粒粉体分析的样品制备:取样,缩样与分散

孔径分析:气液与液液孔径分析方法

粉体流动性分析

咨询电话:021-51085884-807


研讨会主要主讲人:

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